Silizium-Wafer mit strukturierten Halbleiter-Dies
Labor- & Fertigungsautomatisierung

Fertigungsautomatisierung & autonome Agenten

Autonome Inspektions-, Mess- und Verarbeitungssysteme für die Hochpräzisionsfertigung.

Produktreihe

Produkte

Illustratives Produkt-Rendering von Wafer-Overlay-Metrologiesystem
Wafer-Overlay-Metrologiesystem

Automatische Overlay-Messung für 6/8/12-Zoll-Wafer, ein- und beidseitig.

Typische Konfiguration
  • NA 0.7 Optik
  • Breitband-abstimmbare Beleuchtung
  • KI-Subpixel-Algorithmen
Konfiguration pro Projekt bestätigt
Illustratives Produkt-Rendering von Präzisionssysteme zur Fehlererkennung
Präzisionssysteme zur Fehlererkennung

KI-Bildinspektion für Halbleiter-, Display- und neue Energiekomponenten.

Konfiguration pro Projekt bestätigt
Illustratives Produkt-Rendering von Präzisionsverarbeitungs- und Schneidsysteme
Präzisionsverarbeitungs- und Schneidsysteme

Automatisierter Präzisionsschnitt zur Maximierung des Ertrags (Details auf Anfrage).

Konfiguration pro Projekt bestätigt
Illustratives Produkt-Rendering von Display- & Fertiggeräte-Sichtprüfung
Display- & Fertiggeräte-Sichtprüfung

Automatisierte optische Inspektion von Platinen und montierten Geräten.

Konfiguration pro Projekt bestätigt

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