Automação laboratorial e industrial
Automação de Manufatura e Agentes Autônomos
Sistemas autônomos de inspeção, medição e processamento para fabricação de alta precisão.
Série de produtos
Produtos
Sistema de metrologia de sobreposição de wafer
Medição automática de overlay para wafers de 6/8/12 polegadas, de face simples e dupla.
Configuração típica
- Ótica NA 0.7
- Iluminação sintonizável de banda larga
- Algoritmos de sub-pixel de IA
Configuração confirmada por projeto
Sistemas de inspeção de defeitos de precisão
Inspeção visual por IA para componentes de semicondutores, visores e novas energias.
Configuração confirmada por projeto
Sistemas de processamento e corte de precisão
Corte de precisão automatizado para maximizar o rendimento (detalhes mediante solicitação).
Configuração confirmada por projeto
Inspeção Visual de Exibição e Dispositivo Finalizado
Inspeção óptica automatizada de painéis e dispositivos montados.
Configuração confirmada por projeto