Tranche de silicium avec puces semi-conductrices structurées
Automatisation de laboratoire & fabrication

Automatisation de la fabrication et agents autonomes

Systèmes autonomes d'inspection, de mesure et de traitement pour la fabrication de haute précision.

Série de produits

Produits

Rendu produit illustratif de Système de métrologie de superposition de plaquettes
Système de métrologie de superposition de plaquettes

Mesure automatique de recouvrement (overlay) pour les plaquettes de 6/8/12 pouces, simple et double face.

Configuration typique
  • Optique NA 0.7
  • Éclairage accordable à large bande
  • Algorithmes sous-pixels AI
Configuration confirmée par projet
Rendu produit illustratif de Systèmes d'inspection de précision des défauts
Systèmes d'inspection de précision des défauts

Inspection par vision AI pour les composants de semi-conducteurs, d'affichage et de nouvelle énergie.

Configuration confirmée par projet
Rendu produit illustratif de Systèmes de traitement et de découpe de précision
Systèmes de traitement et de découpe de précision

Découpe de précision automatisée pour maximiser le rendement (détails sur demande).

Configuration confirmée par projet
Rendu produit illustratif de Inspection visuelle des écrans et des appareils finis
Inspection visuelle des écrans et des appareils finis

Inspection optique automatisée des panneaux et des dispositifs assemblés.

Configuration confirmée par projet

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